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■ 講義（7科目）

講義 タイトル 講師（所属）
講義1 放射光発生の基礎 正木 満博（高輝度光科学研究センター）
電子などの荷電粒子が加速度運動すると電磁波が放射される。特に、電子シンクロトロンと呼ばれる加速器で作られる高エネルギー電子が、磁場により偏向された際に発生する電磁波をシンクロトロン放射光と呼び、指向性に優れ、輝度が高く、マイクロ波から硬X線に至る幅広い波長領域をカバーするという特性を持つ。本講義では、代表的なシンクロトロン放射である偏向電磁石放射、アンジュレータ放射、コヒーレントシンクロトロン放射、自由電子レーザーなどについて、その発生原理と性質をなるべく直感的に理解できるように解説する。
講義2 ビームライン ～光源と実験ステーションを繋ぐもの～ 仙波 泰徳（高輝度光科学研究センター）
放射光利用実験では光源からの放射光をそのまま利用することはほとんどなく、ユーザーの用途に合わせてビームライン光学機器で様々な制御（例えば光のエネルギーやサイズの調整など）がなされたX線が提供される。講義ではX線光学の定性的な説明を行い、それらを利用したビームライン光学機器類について紹介した後、熱対策などの技術的な問題について触れる。
講義3 X線検出器の基礎 雨宮 慶幸（高輝度光科学研究センター）
X線（＝光）は試料（＝物質）によって回折または散乱されるときは波動として振る舞います。しかし、その波動がX線検出器で検出されるときは粒子（光子）として振る舞います。試料から回折・散乱されたX線強度を測定することは、検出器に入射したX線粒子（光子）の個数を数えることです。X線検出器は、X線粒子の個数を入射した場所と時刻の関数として測定する計測装置です。本講義では、下記について、平易に解説します。1）光の二重性（波動性と粒子性）、2）光子統計、3）X線検出器の原理と性能、4）放射光用X線検出器に求められる性能、5）X線検出器の分類と種類、6）主なX線検出器の構造と性能
講義4 X線自由電子レーザー入門 大坂 泰斗（理化学研究所）
X線の発見から約120年後の2009年に、米国のSLAC国立加速器研究所が人類最初のX線レーザーを実現させました。それから2年後の2011年には日本の理化学研究所が世界で2番目のX線レーザーを実現させ、SACLAと名付けました。現在ではX線レーザーの建設が世界各地で行われており、今まさにX線レーザーの時代が始まろうとしています。これらのX線レーザーは「自由電子レーザー」と呼ばれるタイプの光源で、私達が普段イメージするレーザーとは異なる方法で光を作り出しています。この講義では、X線レーザーの仕組みとX線レーザーによって可能になったサイエンスをSACLAの取り組みを交えながら紹介します。
講義5 X線イメージング 篭島 靖（兵庫県立大学）
X線の高い透過性はレントゲン写真のように物体内部の構造観察を可能にする。さらに、放射光X線の高輝度性は様々な新しい画像法（イメージング）を可能にした。屈折コントラスト法による高コントラスト動的観察、X線顕微鏡トモグラフィーによる三次元内部構造の顕微観察、走査型X線顕微鏡による微量元素の二次元分布測定、マイクロビームX線による微小領域の構造・歪み解析等を例に挙げ、SPring-8における最先端の応用例を紹介する。
講義6 回折・散乱の基礎と構造解析への応用 藤原 明比古（関西学院大学）
物質の性質を理解するうえで、原子配列は、最も基本的、かつ、重要な情報の一つです。本講義では、回折・散乱現象の基礎から出発し、原子によるX線の回折・散乱、回折・散乱実験による原子配列の解析について概観します。結晶構造解析はわかりやすい応用例ですが、結晶構造解析のみならず、薄膜結晶や周期性を持たない非晶質材料、集合体の構造の解析などを対象にして、放射光利用の優位性や放射光利用ならではの実験例についても解説します。
講義7 XAFSの基礎 新田 清文（高輝度光科学研究センター）
X線吸収微細構造（XAFS）法は着目する任意の X線吸収原子の電子状態や吸収原子近傍の動径構造などを得ることができる優れた手法である。SPring-8では周期表のほとんど全ての元素が測定対象となるため、基礎、先端を問わず幅広い分野において適用されている。本講義では①XAFSの基本、②XAFS測定の概略、③XAFS解析の概略及び④SPring-8における先端応用例、についての講義を通してXAFSに親しんで頂きたい。

■ 実習（21件より2テーマを選択）

21件の実習課題を予定しています。受講者の皆さんにはこの中から2テーマを選択していただきます。ただし、特定のテーマに希望者が集中した場合、ご希望に添えるとは限りませんのでご了承下さい。また、装置故障等の不測の事態により予定が変更される場合がありますので、ご理解をお願い致します。
BL タイトル 講師（所属）
本実習は3つのビームラインで行われます。実習内容は若干異なりますが、学習する手法は同じであるため、一緒にして希望を募ります。ビームラインを個別に選択して希望することはできませんが、もしいずれかのビームラインでの実習を強く希望する場合には、事務局へのコメント欄に理由を記述してください。
BL01B1 "その場" XAFS計測 加藤 和男・伊奈 稔哲・宇留賀 朋哉（JASRI）
XAFS法は、結晶構造を形成していない物質や、濃度が希薄な試料に対しても、局所構造や電子状態を解析できる手法として、広い研究分野で利用されている。本実習では、まずXAFS計測を行うための放射光光学素子の位置調整と、試料調製について実習を行う。その後、触媒粒子の形成反応に対して、"その場"XAFS測定を行い、触媒粒子内でどのような構造変化や電子状態変化が起こるかを解析する。
BL08B2 XAFSによる担持試料酸化及び還元反応のその場観察 李 雷（ひょうご科学技術協会）・篭島 靖（兵庫県立大学）
自動車排ガス用触媒、リチウムイオン電池など様々な研究分野で、XAFS法は不可欠で汎用的な実験手法として知られている。本実習では、標準試料の作製方法、および、実触媒を用いた時分割XAFS測定での『その場観察』を実施する予定です。また、その実験で得られたデータを用いて、無料解析ソフト『Athena』の基本的な使い方を学びながら、測定したデータの解析を行い、材料の構造変化や電子状態などのXAFS理論を学ぶことを目的とする。
BL14B2 XAFS分析の基礎 渡辺 剛・本間 徹生・大渕 博宣・佐藤 眞直（JASRI）・廣沢 一郎（JASRI／岡山大学）
XAFS法は、結晶化していない物質や、濃度が希薄な材料に対しても、局所構造や電子状態を解析できる手法として、触媒、電池、発光材料など様々な研究分野で利用されています。本実習では、XAFS計測を行うための試料調整と、その原理に忠実な透過法による測定およびフリーの解析ソフトを用いたスペクトル解析を行い、XAFS分析の基礎について学んで頂く予定です。
BL02B1 単結晶構造解析の入門 野上 由夫（岡山大学）・杉本 邦久・安田 伸広（JASRI）
単結晶は粉末結晶に比べ、以下の特徴を有する。1）晶系や結晶の対称性（空間群）の決定が容易である。2）並進対称性の破れ（格子変調）の検出も容易である。本実習では、単結晶構造解析の原理を解説し、半導体検出器を用いた回折装置で実際に測定を行い、低分子単結晶の原子座標を精密に決定する。
BL04B1 大容量高圧プレスと白色X線を用いたX線回折実験 肥後 祐司（JASRI／茨城大学）・丹下 慶範（JASRI）
BL04B1は川井型大型プレスと放射光硬X線を利用して、高圧下での結晶構造変化や各種物性を測定するビームラインです。本実習では塩化カリウムの高圧相転移を約2万気圧の高圧下でその場観察します。高圧実験の手順のほか、白色X線を光源としたエネルギー分散型X線回折法の実習をします。
BL04B2 高エネルギーX線を用いたガラス・液体の構造解析 尾原 幸治・山田 大貴・廣井 慧（JASRI）
最先端の機能性材料には、ガラスや液体が数多く存在します。ガラスや液体のような乱れた原子配列を解析するために、二体分布関数（Pair Distribution function, PDF）解析という手法が用いられます。本実習では、SPring-8の高エネルギーX線を用いたPDF解析によって、一見無秩序に思えるガラスの原子配列の解析を行います。
BL07LSU 推理の放射光元素分析 松田 巌・原田 慈久（東京大学）
実習の中に推理の要素を盛り込んでみました。実際、研究現場では様々なモデルが構築されますが、科学的検証によりそれらが淘汰されていきます。そこで本実習では古典的名作の推理小説を参加者に事前に読んでいただき、それぞれの推理結果を考えてきてもらいます。そして小説内の証拠品と同じ物質について光電子分光を勉強しながら実際の測定を実施してもらい、それぞれの推理結果を元素分析で確認します。BL07LSUではユーザーによる最先端軟X線実験装置が開発され、中にはX線自由電子レーザー用のものもあります。また超短パルスレーザーも整備されています。実習ではそれらの装置群も紹介し、最先端光源を用いた実験を系統的に解説します。
BL11XU X線回折顕微法で放射光を超単色化できる高品質な核共鳴分光素子を探そう！ 三井 隆也（QST）
本実習では、放射光のX線を10の9乗分の1まで超単色化できる高品質な核共鳴分光素子をX線回折法や写真法を利用して実際に探し出してもらいます。実用上、特に重要な温度や磁場が素子性能をどう変えるかについても調べます。高品質な光学素子を見つけるための原理や探査結果をレポートにまとめてもらうことでSPring-8の優れたX線の性質やその利用法を体感していただきます。本当に世界最高性能の核分光用光学素子が見つかるかもしれません。
BL13XU サブミクロン集光放射光ビームによる局所領域回折実験 木村 滋（JASRI／岡山大学）・隅谷 和嗣（JASRI）
SPring-8のような第三世代放射光源の最大の特長は輝度が高いことです。この特長は微小なX線ビームを形成する場合に威力を発揮します。本実習では、SPring-8の放射光をゾーンプレートと呼ばれる集光素子で数100 nmサイズに集光するとともに、その集光ビームを利用したX線回折実験を実施します。この手法が局所領域構造を調べる上で非常に有効であることを、ミクロン領域に選択成長した化合物半導体細線構造を測定することで実感してもらいます。
BL17SU 走査型軟X線分光顕微鏡による埋もれた微細構造の観察 大浦 正樹（理研／関西学院大学）・石原 知子（理研）
軟X線分光では、様々な試料について、構成元素の種類やその化学結合状態に関する情報が得られます。本実習では、SPring-8から得られる高輝度軟X線をゾーンプレートと呼ばれる素子を用いて数100 nmサイズに集光し、その集光ビームを利用した走査型軟X線顕微鏡を用いた顕微分光実験を実施します。シリコン基板上に酸化層や金属層によって微細構造を形成し、更に重金属薄膜で表面を覆った試料を観察し、埋もれた微細構造を浮き彫りにします。
BL19B2 粉末X線回折 大坂 恵一・佐藤 眞直（JASRI）・廣沢 一郎（JASRI／岡山大学）
粉末X線回折は、構造解析技術として物質科学研究での重要な技術であるばかりでなく、複数の化合物から成る材料の組成分析技術として産業界（企業）でも広く用いられています。高輝度な放射光を用いた粉末X線回折では、通常は検出が困難な微量成分も短時間で測定できるため、機能性セラミックスの開発などに盛んに用いられています。今回は、BL19B2のハイスループット粉末回折計で良質なデータを取得するための装置調整と測定の実習を予定しています。
BL20XU 放射光X線イメージングと基礎データ解析 竹内 晃久・上椙 真之（JASRI）
放射光を利用したX線画像計測は、レントゲン撮影のように計測対象である試料の内部構造を単に可視化するだけでなく、得られた画像データを定量的に取り扱うことにより、様々な情報を引き出すことができます。本実習では、X線画像計測を行うための基本ツールである画像検出器の取り扱いについて習得するとともに、実際にX線画像データの取得を行い、得られた画像を解析するところまでを体験していただくことにより、放射光X線画像計測の基礎を習得することを目的とします。時間があればCTによる3次元イメージングにも挑戦します。
BL23SU 放射光光電子分光による物質の電子状態分析 川崎 郁斗・角田 一樹・藤森 伸一（JAEA）
物質の性質は物質内の電子構造によって決定されています。光電子分光法は、光電効果を利用して物質の組成と電子状態を直接的に調べることができる実験手法です。高輝度放射光の利用によって角度分解光電子分光を行うことも可能となり、 物質のバンド構造やフェルミ面を決定することもできます。実習では、光電子分光法による物質の組成分析について体験していただく予定です。
BL33LEP GeV光ビームの生成と粒子・反粒子対の測定 與曽井 優（大阪大学）・村松 憲仁・宮部 学・時安 敦史（東北大学）
GeV光ビームは、X線に比べて10万倍程度高いエネルギーを持ち、素粒子・原子核の研究に利用されています。本実習では、レーザー光をSPring-8蓄積電子と逆コンプトン散乱させてエネルギー増幅し、GeV光ビームの生成を確認します。また、GeV光ビームと物質の相互作用を理解するため、大型荷電スペクトロメーター等を使って粒子・反粒子対（電子と陽電子）の生成を測定します。実習を通して、簡単な電磁気学および量子力学、初歩の相対論にも触れながら、極微の世界を体験します。
BL35XU X線非弾性散乱 筒井 智嗣（JASRI／茨城大学）
X線非弾性散乱は、X線を用いて物質中の原子振動（フォノン）を明らかにする手法です。入射X線のエネルギーの1千万分の1のエネルギー変化を測定できる分光器を用いて、フォノン励起を観測します。この実験は、国内ではSPring-8だけで実施可能であり、海外でも数少ない施設で実施可能な実験です。本実習では、標準試料を用いてX線非弾性散乱によるフォノン分散の決定を行っていただきます。
BL39XU 硬X線磁気円二色性分光による磁性体試料の解析 鈴木 基寛・河村 直己・水牧 仁一朗・大沢 仁志（JASRI）
X線磁気円二色性（XMCD）測定は、円偏光X線を使った吸収分光法です。この手法によって、試料の磁性の起源となる電子状態を元素別に観察することができます。実習では硬X線領域でのXMCD測定を題材とし、円偏光を作り出すための光学素子であるダイヤモンド移相子の原理、XMCDスペクトルの測定、ナノ集光ビームを用いた磁気イメージング測定について学びます。
BL40B2 小角X線散乱法を用いたタンパク質分子の構造解析 八木 直人・関口 博史（JASRI）
小角X線散乱法（SAXS）は、数nmから数µmの大きさや周期を持つ物質について、ダイレクトビーム近傍に観測される散乱X線の強度分布から、その構造を解析する手法です。これは高分子から粘土まであらゆる種類の物質に応用できる手法ですが、タンパク質溶液に適用することにより、“生きた状態”に近いタンパク質分子の構造を知ることができます。本実習ではタンパク質溶液からの散乱データ収集および分子構造予測に至る一連の解析を行い、タンパク質分子の構造-機能相関について考察します。SAXSの基礎と測定手法に関する知識は、タンパク質以外の試料にも役立つと思います。
BL43IR 赤外顕微分光による組成分布と電子状態の解析 森脇 太郎・池本 夕佳（JASRI）
SPring-8はX線から赤外線まで広い帯域の光を利用することができますが、このうち、波長が最も長い赤外線を利用した分光実験を行います。赤外分光では、有機・無機の様々な試料について、その組成や結合状態・電子状態に関する情報が得られます。放射光を実験した場合には、微小な領域の赤外分光が行われています。本実習では、実験室装置を利用して、繊維などの身近な素材のスペクトル測定を行います。また、測定前の重要な過程である試料作成についても実習を行います。
本実習は2つのビームラインで行われます。実習内容は同じです。ビームラインを個別に選択して希望することはできませんが、もしいずれかのビームラインでの実習を強く希望する場合には、事務局へのコメント欄に理由を記述してください。
単結晶回折
（タンパク質）		 BL44XU 中川 敦史・山下 栄樹・櫻井 啓介（大阪大学）・山口 峻英（茨城大学）
BL45XU 熊坂 崇（JASRI／関西学院大学）・馬場 清喜・河村 高志・水野 伸宏（JASRI）・山口 峻英（茨城大学）
単結晶X線回折は、分子の立体構造を原子レベルで詳細に明らかに出来る強力な手法で、幅広い分野で利用されています。生命科学分野においてもタンパク質の構造から機能を明らかにする構造生物学研究の主要な手法として用いられていますが、分子量が大きいことや回折分解能が限られているために、さまざまな手法が開発され独自の発展を遂げています。本実習ではこの解析の一連の流れを習得するために、二次元検出器による結晶回折データ測定とSAD法による位相決定、計算機を用いた分子構造の構築と精密化を体験していただきます。
BL46XU 硬X線光電子分光 安野 聡・小金澤 智之・佐藤 眞直（JASRI）・廣沢 一郎（JASRI／岡山大学）
硬X線光電子分光は従来の光電子分光に比べて数倍以上大きい分析深さを有し、試料深部や界面における化学結合状態・電子状態を非破壊で調べることができる分析手法です。近年は電池材料や半導体を中心として、幅広い分野で利用が進んでいます。実習では様々な薄膜試料について、測定→元素の同定→化学結合状態の推定→試料構造の考察までの一連の分析の流れを体験して頂く予定です。